IT7900P Высокопроизводительный симулятор регенеративной сети ITECH

  Серия IT7900 представляет собой программируемый четырехквадрантный симулятор сетки. Это также четырехквадрантный усилитель мощности, который можно использовать для тестирования различного оборудования, подключенного к сети. Например, PCS, система накопления энергии, микросеть, BOBC (V2X), PHiL и т. д. В изолированном режиме (устанавливается RLC) один блок IT7900 может реализовать тест защиты от изолирования. Симулятор сети серии IT7900 использует полупроводниковые компоненты SiC третьего поколения. Это всего лишь 1/3 размера обычного симулятора сети, но его выходная мощность может достигать 960 кВА, что является самой высокой удельной мощностью среди аналогичных продуктов на рынке.

   Кроме того, IT7900 обеспечивает полные четырехквадрантные симуляторы сети с полным 100% номинального тока как в режиме источника, так и в режиме приемника, а затем обеспечивает обратную связь с сетью и обеспечивает возможность рекуперации энергии. Энергия, вырабатываемая тестируемым устройством во время испытаний, может быть легко возвращена в сеть переменного тока, а не рассеивается в виде тепла, что защищает окружающую среду и снижает эксплуатационные расходы. Эффективно реагировать на требования охраны окружающей среды по энергосбережению и сокращению выбросов, а также способствовать устойчивому развитию следующего поколения.

   Еще одним прорывом симулятора регенеративной сети IT7900 является то, что он превращает сложный тест в простой и может быть выполнен с помощью одного прибора. С easyoperation вы можете иметь мощный анализ данных. Дизайн сенсорного экрана позволяет пользователям перемещать экран и переключать интерфейсы так же удобно, как делать это на мобильном телефоне. Раньше сенсорные экраны подобных инструментов часто приходилось использовать с емкостным пером. IT7900 предназначен для улучшения возможностей анализа сигналов и данных для инженеров, а не только для отображения основных параметров измерения. Это обеспечивает достаточную поддержку данных для изучения аномальных точек в характеристиках тестируемого устройства в течение определенного периода времени.