Будьте всегда в курсе!
Узнавайте о скидках и акциях первым
Новости
Все новости
Прецизионный анализатор импеданса TH2851-015
- Тестовая частота: 10Гц-15МГц
- Высокая точность: использование технологии автоматического балансного моста, четырехконтактная конфигурация тестирования пар
- Высокая стабильность и постоянство
- Высокая скорость: самая высокая скорость тестирования до 5 мс
- Высокое разрешение: 10.1-дюймовый емкостный сенсорный экран, разрешение 1280*800
- Три метода тестирования: точечный тест, сканирование списка и сканирование графика
- Функция сканирования списка мультипараметров 1601 точки
- Четырехпараметрическое измерение
Подробнее
ЗАКАЗАТЬ
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
- Описание
-
Описание
- Тестовая частота: 10Гц-15МГц
- Высокая точность: использование технологии автоматического балансного моста, четырехконтактная конфигурация тестирования пар
- Высокая стабильность и постоянство
- Высокая скорость: самая высокая скорость тестирования до 5 мс
- Высокое разрешение: 10.1-дюймовый емкостный сенсорный экран, разрешение 1280*800
- Три метода тестирования: точечный тест, сканирование списка и сканирование графика
- Функция сканирования списка мультипараметров 1601 точки
- Четырехпараметрическое измерение
- 4-канальная функция графического сканирования, каждый канал может отображать 4 кривые, 16 видов режимов разделенного экрана для каналов и кривых
- ■ Мощная сортировка: 10 классов сортировки в режиме LCR
- ■ Режим графического сканирования, каждая кривая сортируется индивидуально
- ■ Высокая совместимость: Поддержка набора инструкций SCPI, совместимость с KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A
- Оценка параметров импеданса и анализ характеристик конденсатора, индуктора, магнитного сердечника, резистора, пьезоэлектрических устройств, трансформаторов, компонентов микросхем и сетевых компонентов
- Проверка и анализ паразитных параметров интегральной схемы светодиодного драйвера C-VDC характеристики варакторов
- Анализ паразитных параметров транзисторов или интегральной схемы
- Оценка импеданса печатных плат, реле, переключателей, кабелей, батарей
- Оценка диэлектрической проницаемости и угла потерь пластмасс, керамики и других материалов
- Оценка магнитной проницаемости и угла потерь феррита, аморфного тела и других магнитных материалов
- Диэлектрическая проницаемость, электропроводность и C-V характеристики полупроводниковых материалов