Askania SMT 4 - универсальный стереомикроскоп

При контроле технической продукции, а также при наблюдении за циклами технологических процессов важна быстрая и восстанавливаемая настройка определенных увеличений. Модель SMT 4 имеет пять ступеней увеличений, поэтому легко удовлетворяет данное требование. Простая внедряемость в производство, компактная конструкция и огромное поле зрения гарантируют легкие манипуляции с рабочими образцами.

Микроскопы SMT 4 предназначены для использования на предприятиях и в лабораториях для контроля технологических процессов при напылении тонких пленок, фотолитографии, микросварке и других областях. Микроскопы позволяют получать четкое контрастное изображение исследуемого образца без искажений. При необходимости стереомикроскопы могут быть оборудованы системами фото- и видео документирования оптических исследований.

Конфигурация микроскопов может быть различной, благодаря их модульному дизайну. Доступны различные варианты базы, освещения, фотоадаптеры, дополнительные линзы, различные рабочие столики, поляризационные устройства и др опции. Возможна поставка стереомикроскопов с кольцевой подсветкой, дающей однородное освещение без теней, стереомикроскопов для одновременного исследования двумя операторами, стереомикроскопов проходящего света с держателем для нескольких образцов и др.

Более подробно о доступных опциях микроскопов.

Технические характеристики микроскопов SMT 4:

*Значения параметров рабочее поле и увеличение зависят от типа окуляра и объектива, а также при выводе изображения на экран зависят от типа камеры и фотоадаптера. За более подробной информацией оборащайтесь к специалистам компании Евроинтех.

Особенности стереомикроскопа SMT 4:

• Ступенчатая регулировка зум фактора 10:1
• Увеличение: 3,2х; 6,3х; 10х; 16х; 32х
• Поле зрения: 63; 32; 20; 12,5; 6,3 мм
• Большое рабочее расстояние: 185 мм
• Однородное освещение, кольцевая подсветка
• Фотодокументирование
• Универсальный штатив: регулировка по высоте и углу поворота

Стереомикроскоп SMT 4 для исследования глубоких отверстий

Стереомикроскоп на базе модели SMT 4 в специализированной конфигурации с вертикальным падением света. Позволяет исследовать глубокие отверстия. Также доступен на базе модели SMC 4.

Особенности микроскопа для исследования глубоких отверстий:

• Коаксиальная подсветка для исследования отверстий
•  Вертикальное падение света, отсутствие теней

 

Микроскоп на базе модели SMT 4 в специализированной конфигурации с диффузионной подсветкой. Такая подсветка позволяет снизить отражение на глянцевых поверхностях, минимизировать блики, тени, улучшить качество получаемого изображения. Также доступен на базе модели SMC 4.

Особенности микроскопа с диффузионной подсветкой:

• Идеальное решение для визуализации объектов с блестящей, сильно отражающей поверхностью
• Также позволяет визуализировать объекты со сферической поверхностью
• Используется вместе с лампами холодного освещения и гибкими держателями

Типовые применения микроскопа с диффузионной подсветкой

• Контроль окрашенных поверхностей
• Контроль подшипников
• Сборка часовых механизмов