Измерительный микроскоп Hyper MF-B2515B с автофокусом

Моторизованный универсальный измерительный микроскоп модели Hyper MF-B2515B от ведущего мирового производителя средств измерений – японской компании Mitutoyo, представляет собой универсальную систему для измерений и оценки качества объектов с высокой точностью.

Предназначен для измерений с повышенной точностью и повторяемостью, в широком диапазоне задач, начиная от элементов поверхности плат и готовых сборок, до сверхмалых элементов микроэлектронных компонентов.

Измерительный микроскоп Hyper MF-B2515B имеет одну из самых высоких точностей измерения по XY: (0,9+3L/1000)1 мкм*. Он отлично подходит для измерений зазоров между контактными площадками, ширины и глубины дорожек, и других критичных размеров на плате. В случае с необходимостью контроля микросборок оператор может легко и быстро измерить высоты клеевых слоев и длину перемычек, разваренных на разных высотах.

* L = измеренная длина (мм) в плоскости XY, столик не нагружен.

Данная измерительная машина может успешно применяться для высокоточного серийного производства, для решения задач НИОКР, реверс-инжиниринга, микроэлектроники а также служб технического контроля качества и в лабораториях метрологии.

Микроскопы Hyper MF-B/MF-UB обладают следующими преимуществами:

●     Опция LAF (лазерный автофокус)
●     Высокая производительность и повторяемость
●     Моторизованное управление по трем координатам (по X, Y и Z)
●     Автоматическая фокусировка входит в стандартную комплектацию
●     Широкий выбор функциональных креплений, включая держатель пластин и поворотные центра

Конструктивные особенности и преимущества измерительного микроскопа Hyper MF-B2515B:

1. Револьверная голова с парфокальной регулировкой и сохранением фокусировки.

Для быстрого изменения увеличений наблюдаемого объекта, измерительные микроскоп оборудован револьверной головкой (турелью), с моторизованным приводом. Это позволяет одновременно установить на микроскоп до пяти объективов. Благодаря этому оператор может быстро переключаться между любым увеличением.

Дополнительным преимуществом оптических комплектов Mitutuyo является возможность использовать комплект объективов с одинаковым рабочим расстоянием 34 мм*.

* пример для Plan APo объективов светлого и темного поля, кратности 2х, 5х, 7.5х, 10х.

Одним из самых значительных преимуществ, которые получают пользователи измерительных микроскопов Mitutuyo, является использование револьверной головки с центрированием и парфокальной регулировкой. За счет этого, при переключении между объективами, тонкая фокусировка на объекте сохраняется. Оператору не приходится каждый раз напрягать зрение и заново настраивать параметры фокуса. Экономится время, снижается утомляемость зрительного механизма, риск для здоровья и ошибки в результатах измерений.

При этом, доступны варианты с ручным и автоматизированным переключением, при полной обратной связи с измерительным ПО. Элементы управления с «искусственным интеллектом», автоматически распознают параметры увеличений и сразу учитывают это в необходимые измерениях.

2. Механизированные предметные столы с различными диапазонами измерений и быстрой фокусировкой

Все оси оснащены приводом. Перемещения по осям X и Y управляются с помощью джойстика. Ползунок управляет осью Z, чтобы во время измерения можно было запускать операции с пульта дистанционного управления. Это исключает обычные операции вращения рукоятки и фокусировки, что снижает усталость оператора.

Максимальная скорость перемещения по осям X и Y составляет 40 мм/с, а по оси Z – 20 мм/с. Модельный ряд включает модели, которые имеют большие размеры столов от 200 х 170 мм до 400 х 200 мм.

3. Универсальная система оснастки.

Предназначена для быстрой и простой установки, а также для надежной фиксации крепления объектов разнообразной формы и размеров. В дополнение к точной установке на измерительном столе доступны элементы оснастки, которые позволяют осуществлять контролируемый наклон и поворот изделия для более удобного исследования труднодоступный частей, а также для осуществления бокового обзора.

Именно физический наклон изделия, без применения оптических «наклонов» и призм, сохраняет геометрию и передает изображение для целей точного измерения.

4. Дополнение элементами искусственного интеллекта:

• Управляющее ПО QSPAK VUE V6.0 (Windows 10, 64 bit)
• Пакет для автоматического распознавания краев объекта
• Пакет для обеспечения функции автофокусировки
• Пакет FORMTRACEPAK-AP, для анализа 2D контуров
• Пакет QS-CAD, для управления CAD- данными, и следующим функционалом:
—       Загрузка в графическое окно 2D CAD модели детали и привязка к ней реальной детали для удобного перемещения по детали с использованием модели;
—       Считывание номинальных размеров с модели и загрузка их в соответствующие поля в программе;
—       Сохранение результатов измерений в формате 2D CAD