Установка Condor Sigma W12

Установка Condor Sigma W12 специально разработана для прецизионного тестирования на сдвиг и отрыв столбиковых и шариковых выводов на уровне полупроводниковой пластины. Установка имеет наибольшую рабочую зону и перемещение по осям X/Y в индустрии.

Установка Condor Sigma W12 –  самая современная на рынке система тестирования соединений, объединяющая уникальные преимущества серии Condor с самыми новейшими технологиями тестирования  и инновациями. Возможны два варианта исполнения системы – настольная установка или полностью автоматическая интегрированная установка с системой загрузки пластин. Держатели для пластин изготавливаются в соответствии с требованиями конкретного технологического процесса.

Интегрированная установка представляет собой полностью автоматическую, высокоточную, безопасную систему с максимальной производительностью. Отличительными особенностями установки Condor Sigma W12 являются: автоматическое определение размера пластины, центрованные зажимы на основе ПИД-регулятора, предотвращающие повреждение пластины при загрузке/разгрузке.

Отличительные особенности:

Револьверная измерительная головка

Компания XYZTEC хорошо известна многими инновационными решениями тестирования соединений.  Револьверная измерительная головка (RMU) – один из результатов проектной группы XYZTEC, использующей обратную связь с потребителями. Гибкая конфигурация включает от 1 до 6 датчиков, позволяющих осуществлять полностью автоматическое или ручное тестирование. По сравнению с заменяемыми вручную картриджами RMU способствует сокращению времени переналадки и уменьшению риска повреждения датчиков. Датчики не требуют замены или нагрева, выбор датчика с инструментом осуществляется простым нажатием кнопки. 

Плавное касание и высокое разрешение

Установка Condor Sigma W12 может выполнять различные типы тестирования с усилием, которое может быть менее 0,1 гс и до 10 кгс. Благодаря интеллектуальному программному обеспечению  измерительная головка быстро перемещается к области тестирования, после приближения к области тестирования скорость измерительной головки уменьшается. Поправка с цифровой индикацией и самое высокое в мире разрешение, равное 24 бит, способствуют получению самых надежных и повторяемых  результатов измерения. Усилие сдвига программируется до минимум нескольких грамм. Даже при более высокой скорости возможно плавное касание. 

Встроенная система захвата изображения и автоматическая камера

Стандартная конфигурация установки включает перпендикулярную автоматическую камеру с небольшим смещением от контрольно-измерительной точки, с двумя видами увеличения и оптическим разрешением до 1.5 мкм. Установка Condor Sigma W12 может быть оснащена камерой высокого разрешения с оптической системой Mitutoyo которая обеспечивает захват детального изображения более высокого качества. Также, в целях автоматизации имеется опция распознавания реперных знаков.

Боковая камера

При помощи перпендикулярной камеры, которая обычно устанавливается на микроскоп, инструмент можно с легкостью совместить с тестируемым объектом в направлении слева направо, однако, в данном случае могут возникнуть сложности при совмещении инструмента в направлении вперед/назад. Для решения этой проблемы можно установить боковую камеру, которая позволит без усилий производить совмещение инструмента в любом направлении.

Держатель пластин

В большинстве случаев, сжатый воздух, подаваемый на вакуумный держатель XYZTEC, легко удерживает деформированные пластины. В случае если пластина чрезвычайно сильно деформирована, дополнительный держатель пластин гарантирует точную фиксацию (опция).

Устройство очистки держателя пластин

Чтобы удостовериться в том, что на пластине или на держателе не имеется никаких обломков пластины или загрязнений, в комплект установки может быть добавлен специальный полностью автоматический очиститель, который может выполнять очистку как до так и после тестирования. 

Центрованные зажимы

Управляемые ПИД-регулятором центрованные зажимы с мягкими и гибкими вакуумными наконечниками надежно фиксируют как ровные, так и деформированные пластины, предотвращая их повреждение при загрузке/разгрузке. 

Совмещение пластины

Для точной загрузки и совмещения пластины используются современные высокоточные оптические датчики.

Импорт/экспорт файлов с картами полупроводниковой пластины 

Программное обеспечение для установок Condor Sigma  позволяет импортировать и экспортировать файлы с картами полупроводниковой пластины в различных форматах (KLARF, INF, и т.д..). После импорта предоставляется полный обзор на карту пластины, система шаг за шагом проведет оператора по отмеченным дефектам. Проверенные позиции отмечаются на карте. После завершения тестирования, карта пластины и результаты тестирования могут быть экспортированы, обеспечивая полную прослеживаемость. Для каждого кристалла, можно сохранить результаты тестирования в формате картинки с высоким разрешением, на которой показываются и отмечаются тестированные позиции. Имеется программа просмотра файлов в режиме offline, позволяющая проверить экспортируемые файлы карты пластин и результаты тестирования.

Автофокус и система статистического контроля процессов

XYZTEC также предлагает расширенную версию программного обеспечения для установок тестирования Condor Sigma, которое позволяет производить статистический контроль процессов, и обладает улучшенной. Программное обеспечение обладает функцией автоматического распознавания и нахождения реперных точек, что значительно упрощает программирование последовательности выполнения автоматических действий. Средства автоматизации Condor Sigma обеспечивают быстрое тестирование случайно выбранных позиций. Функция распознавания реперных знаков гарантирует высокую повторяемость. С помощью видеосистемы оператор также может проводить и градуировку результатов, функциональность которой позволяет это сделать за считанные секунды.

Идеальное решение для тестирования на уровне пластины диаметром до 300 мм 

• Прецизионное тестирование на сдвиг и отрыв шариковых и столбиковых выводов
• Размер выводов до 20 мкм
• XY карта координат 
• Функция градуировки результатов
• Простота позиционирования и совмещения
• Видеокамеры высокого разрешения, малое и большое увеличение
• Самая быстрая установка тестирования на уровне пластины в мире
• Перемещение по всей пластине без необходимости перепозиционирования пластины на держателе
• Обдув воздухом и вакуумная очистка инструмента
• Вакуумный держатель пластин с системой блокировки и вращением на 360°
• Держатель пластин механически блокируется когда включен вакуум
• Соответствие стандартам JEDEC JESD22-B117A, JEDEC JESD22-B115, JEITA EIAJ ET-7407
• Совместимость с другими диаметрами пластин (200 мм и менее)
• Разрешение 24 bit ADC, 10кГц частота дискретизации
• Совместимость, как с револьверной измерительной головкой, так и с отдельными измерительными головками
• Непревзойденная точность тестирования: до 0.075% от максимального тестового усилия

Области применения:

• Ball shear / Solder ball shear Тестирование на сдвиг шариковых выводов / шариковых выводов из припоя 
• Bending Испытание на изгиб
• Cavity shear Специализированный тест на сдвиг шарика с распределением усилия по поверхности шарика
• Cold Bump Pull Тестирование на отрыв шариковых выводов 
• Copper pillar Тестирование медных столбиков на отрыв и сдвиг
• Creep test Испытание долговременной прочности при статической нагрузке
• Die shear Тестирование на сдвиг кристалла
• Fatigue Тестирование на усталостную прочность
• High speed impact Тестирование на ударные нагрузки
• Lead integrity / Micro torsion Тестирование выводов на растяжение/изгиб/усталость
• Lid pull Тестирование на отрыв крышки корпуса
• Lid torque Тестирование крышки корпуса на скручивание
• Loop height Измерение высоты петли соединения
• Overhanging die Тестирование нависающего кристалла
• Passivation layer gold ball shear Тестирование на сдвиг шариковых выводов на пассивирующих слоях
• Probe test Испытание с помощью зонда
• Ribbon peel Тестирование ленты на отслаивание
• Ribbon pull Тестирование ленты на отрыв
• Scratch / coating Тестирование качества покрытий царапанием
• SMD shear Тестирование на сдвиг SMD-компонентов
• SMD gull wing leads Тестирование SMD выводов в виде крыла чайки
• Spring rigidity Тестирование жесткости пружинных контактов
• Stud pull Тестирование столбиковых выводов на отрыв
• Total Ball Shear / Zone shear Тестирование на сдвиг группы шариков
• Tweezer pull Тестирование на отрыв с помощью пинцета
• Vector pull Векторное тестирование на отрыв 
• Wedge and ribbon shear Тестирование на сдвиг проволоки/ленты
• Wire pull Тестирование на отрыв проволоки

Технические характеристики: